當前位置：首頁 » 產品知識 » GB/T 5170.5-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

GB/T 5170.5-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

中華人民共和國國家標準
GB/T 5170.5-2008
代替GB/T 5170.5-1996
電工電子產品環境試驗設備檢驗方法
濕熱試驗設備
Inspection methods for environmental testing equipments
for electric and electronic products–
Damp heat testing equipments
2008-06-16發布2009-03-01實施
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局
中國國家標準化管理委員會? 發布

前言

GB/T 5170包含以下部分：

—GB/T 5170.1-2008電工電子產品環境試驗設備檢驗方法總則

—GB/T 5170.2-2008電工電子產品環境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備

—GB/T 5170.5-2008電工電子產品環境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

—GB/T 5170.8-2008電工電子產品環境試驗設備檢驗方法鹽霧試驗設備

—GB/T 5170.9-2008電工電子產品環境試驗設備檢驗方法太陽輻射試驗設備

—GB/T 5170.10-2008電工電子產品環境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備

—GB/T 5170.11-2008電工電子產品環境試驗設備檢驗方法腐蝕氣體試驗設備

—GB/T 5170.13-2005電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法振動（正弦)試驗用機械振動臺

—GB/T 5170.14-1985電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法振動（正弦)試驗用電動振動臺

—GB/T 5170.15-2005電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振動臺

—GB/T 5170.16-2005電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法穩態加速度試驗用機

—GB/T 5170.17-2005電工電子產品環境試驗設備基木參數檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備

—GB/T 5170.18-2005電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度/濕度組合循環試驗設備

—GB/T 5170.19-2005電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度/振動（正弦)綜合試驗設備

GB/T 5170.20-2005電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法水試驗設備本部分是GB/T5170的第5部分。

木部分代替GB/T 5170.5-1996。與GB/T 5170.5-1996相比，技術內容主要有如下變化：

——標準名稱“電工電子產品環境試驗設備基木參數檢定方法濕熱試驗設備”更改為“電工電子產品環境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備”;

——所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；

——增加了“術語和定義”一章；

——增加了“相對濕度波動度”檢驗項目；

——增加了“相對濕度均勻度”檢驗項目：

——增加了“每5min溫度平均變化速率”檢驗項目；

——增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；

——增加了“相對濕度指示誤差”檢驗項目；

——增加了“溫度過沖量”檢驗項目；

——增加了“相對濕度過沖量”檢驗項目：

——增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目：

——增加了“相對濕度過沖恢復時間”檢驗項目；

——增加了“噪聲”檢驗項目；

——在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統和濕度測量系統其測量結果的擴展不確定度(k=2)的要求：

——增加了“檢驗負載”一章；

——測量數據記錄改為每一分鐘記錄一次數據：

——增加了附錄A“檢驗項目的選擇”；

——增加了附錄B“干濕表法測量相對濕度”。

附錄A和附錄B為規范性附錄。

木部分由全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會（SAC/TC 8)提出并歸口。

本部分起草單位：信息產業部電子第五研究所。

本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。

本部分所代替標準的歷次版本發布情況：

—GB/T 5170.5-1985，GB/T 5170.6-1985，GB/T 5170.7-1985，GB/T 5170.5-1996。

電工電子產品環境試驗設備檢驗方法
濕熱試驗設備
1 范圍

GB/T 5170的本部分規定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。

本部分適用于對GB/T2423.3《電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗cab：恒定濕熱試驗》、GB/T2423.4《電工電子產品環境試驗第2部分：試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T2423.16《電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗J：長霉》所用試驗設備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。

本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。
2 規范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

GB/T2423.3電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗

(GB/T2423.3-2006，IEC 60068-2-78:2001，IDT)

GB/T 2423.4電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗D：交變濕熱試驗方法

(GBT2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005,IDT)

GB/T2423.16電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗J：長霉

(GB/T2423.16-1999，idt IEC 60068-2-10:1988）

GB/T2424.6電工電子產品環境試驗溫度/濕度試驗箱性能確認(GB/T 2424.6一2006，IEC
60068-3-6:2001，IDT)

GB/T 5170.1-2008電工電子產品環境試驗設備檢驗方法總則

GB/T 6999環境試驗用相對濕度查算表

GB/T 16839.1熱電偶第1部分：分度表(GB/T 16839.1-1997,idt IEC 60584-1:1995)

IEC 60751工業鉑電阻敏感元件
3 術語和定義

本部分采用GB/T5170.1-2008規定的術語和定義。
4 檢驗項目

本部分的檢驗項目如下

——溫度偏差：

——相對濕度偏差；

——溫度波動度；

——相對濕度波動度；

——溫度均勻度；

——相對濕度均勻度：

——每5min溫度平均變化速率：

——風速：

——升降溫特性；

——溫度指示誤差；

——相對濕度指示誤差；

——溫度過沖量

——相對濕度過沖量：

——溫度過沖恢復時間：

——相對濕度過沖恢復時間：

——噪聲。
5 檢驗用主要儀器及要求
5.1溫度測量儀器

采用由鉑電阻、熱電偶傳感器及二次儀表組成的溫度測量系統，其測量結果的擴展不確定度(k=2)不大于被檢溫度允許偏差的1/3。

鉑電阻傳感器應符合IEC60751的等級A，熱電偶傳感器應符合GB/T 16839.1。

傳感器在空氣中的50%響應時間應在10s~40s之間，溫度測量系統的響應時間應小于40s。
5.2 濕度測量儀器

采用干濕球溫度計或由其他濕度傳感器組成的濕度測量系統，其測量結果的擴展不確定度(k=2)不大于被測濕度允許偏差的1/3。
5.3 風速測量儀器

采用各種風速儀，其感應量不大于0.05m/s。
5.4 噪聲測量儀器

帶A計權網絡的聲級計，其測量結果的擴展不確定度(k=2)不大于1dB.
6 檢驗負載

按GB/T5170.1-2008第7章的規定(或按有關標準的規定）。
7 檢驗條件
7.1 受檢試驗設備在檢驗時的氣候條件、電源條件、用水條件和其他條件應符合GB/T 5170.1-2008第4章的規定。
7.2 受檢試驗設備的外觀和安全要求應符合GB/T 5170.1-2008第8章的規定。
8 檢驗方法
8.1 溫度偏差、相對濕度偏差、溫度波動度、相對濕度波動度、溫度均勻度、相對濕度均勻度、溫度指示誤差、相對濕度指示誤差、每5min溫度平均變化速率、風速的檢驗方法
8.1.1測量點數量及位置
3.1.1.1 根據試驗設備容積的大小，將工作空間分為上、中、下三層，中層通過工作空間幾何中心點。
將一定數量的溫度、相對濕度傳感器布放在其中規定的位置上，傳感器不應受冷熱源的直接輻射。
8.1.1.2 測量點分別位于上、中、下三層。
8.1.1.3 溫度測量點用0、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U表示。
8.1.1.4 相對濕度測量點用0、D、H.、L表示。
8.1.1.5 風速測量點數量及布放位置與溫度測量點完全相同。
8.1.1.6 測量點E、0、0.、U分別位于上、中、下層的幾何中心。其它各測量點與試驗設備內壁的距離為各自邊長的1/10（遇有風道時，是指與送風口和回風口的距離)，但最大距離不大于500m，最小距離不小于50mm。如果設備帶有樣品架或樣品車時，下層測量點可布放在樣品架或樣品車上方10mm處。
8.1.1.7 試驗設備容積小于或等于2m3時，溫度測量點為9個，相對濕度測量點為3個，位置如圖1所示。
8.1.1.8 試驗設備容積大于2m3時，溫度測量點為15個，相對濕度測量點為4個，布放位置如圖2所示。
8.1.1.9 當試驗設備容積小于0.05m3或大于50m3時，可適當減少或增加測量點。
8.1.1.10 根據試驗和檢驗的需要，可在試驗設備工作空間增加對疑點的測量。
8.1.1.11 每5min溫度平均變化速率測量點為工作空間幾何中心點。

溫濕度測試點
8.1.2檢驗步驟
8.1.2.1 恒定濕熱試驗設備

a）按規定位置安裝溫度、相對濕度測量傳感器。在空載和室溫條件下，將風速計的傳感器置于各測量點，測量每點的風速，取其最大值作為該測量點的風速。

b）按規定的升溫速率升至所規定的溫度。升溫期間，每1min測量一次中心點的溫度值。

c）在2h內使相對濕度達到所規定的相對濕度值。

d）自工作空間進入控溫控濕狀態后穩定30min(穩定時間最長不超過2h），開始記錄各測量點的溫濕度值和設備指示的溫濕度值，每隔1min記錄一次，在30min內共記錄30次。

注：當設備控制器的溫濕度示值達到設定值偏差帶時起，可視為進入控溫控濕狀態。
8.1.2.2交變濕熱試驗設備

a）按規定位置安裝溫度、相對濕度測量傳感器。使工作空間的溫度達到25℃±3℃，相對濕度保持在45%~75%RH之間。

b)在1h內，使工作空間的相對濕度不低于95%RH，從此刻開始，使工作空間的溫濕度按GB/T2423.4中規定的程序，即按“升溫-高溫高濕-降溫-低溫高濕”連續變化。

c）在升溫階段和升溫結束后15min內，每1min測量一次中心點（0，0）的溫濕度值。
進入高溫高濕恒定階段后穩定30min，開始記錄各測量點的溫濕度值和設備指示的溫濕度值，每隔1min記錄一次，在30min內共記錄30次。

e）自降溫階段開始前的15min開始，每1min測量一次中心點（0，0）的溫濕度值，直到工作空間的溫度達到25℃±3℃、相對濕度不低于95%RH，即進入低溫高濕階段為止。

f)進入低溫高濕恒定階段后穩定30min，開始記錄各測量點的溫濕度值和設備指示的溫濕度值，每隔1min記錄一次，在30min內共記錄30次。
8.1.2.3長霉試驗設備

b）使工作空間的溫度達到29℃±1℃，相對濕度大于90%RH。

c）自工作空間進入控溫控濕狀態后穩定30min(穩定時間最長不超過2h），開始記錄各測量點的溫濕度值和設備指示的溫濕度值，每隔1min記錄一次，在30min內共記錄30次。
8.1.3計算方法
8.1.3.1數據修正
全部測量數據按測量系統的修正值進行修正。采用干濕法測量相對濕度時，按GB/T 6999查出相對濕度值。
8.1.3.2恒定濕熱試驗設備和長霉試驗設備
8.1.3.2.1溫度偏差的計算方法
對8.1.2.1的d）和8.1.2.3的c）記錄的數據，按下式計算溫度偏差：
△Tmax=Tmax-Tn ………………（1)
△Tmin=Tmin-Tn ………………（2)
式中：
△Tmax—溫度上偏差，單位為攝氏度（℃）；
△Tmin—溫度下偏差，單位為攝氏度（℃）；
Tmax—各測量點在30 min內的實測最高溫度值，單位為提氏度（℃)；
Tmin—各測量點在30min內的實測最低溫度值，單位為攝氏度（℃）；
Tn—標稱溫度值，單位為攝氏度（℃）。
8.1.3.2.2相對濕度偏差的計算方法
對8.1.2.1的的d)和8.1.2.3的c)記錄的數據，按下式計算相對濕度偏差：
△Hmax = Hmax–Hn ……………………(3)
△Hmin = Hmin–Hn………………………(4)
式中：
△Hmax—相對濕度上偏差，%RH；
△Hmin—相對濕度下偏差，%RH；
Hmax—各測量點在30 min內的實測最高相對濕度值，%RH；
Hmin—各測量點在30min內的實測最低相對濕度值，%RH；
Hn—標稱相對濕度值，%RH。
8.1.3.2.3溫度波動度的計算方法
對8.1.2.1的d）和8.1.2.3的c）記錄的數據，按下式計算溫度波動度：
△Tj=Tjmax-Tjmin ………………………(5)
式中：
△Tj—試驗設備工作空間第j點溫度波動度，單位為攝氏度（℃）；
Tjmax—試驗設備工作空間第j點在30min內的實測最高溫度值，單位為攝氏度（℃）；
Tjmin—試驗設備工作空間第j點在30min內的實測最低溫度值，單位為攝氏度(℃）。
取△Tj的最大值為設備的溫度波動度。
8.1.3.2.4相對濕度波動度的計算方法
對8.1.2.1的d)和8.1.2.3的c）記錄的數據，按下式計算相對濕度波動度：
△Hj=Hjmax-Hjmin …………………………(6)
式中：
△Hj—試驗設備工作空間第j點相對濕度波動度，%RH；
Hjmax—試驗設備工作空間第j點在30min內的實測最高相對濕度值，%RH：
Hjmin—試驗設備工作空間第j點在30min內的實測最低相對濕度值，%RH。
取△Hj的最大值為設備的相對濕度波動度。